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半导体晶圆图谱缺陷检测数据集VOC+YOLO格式11720张8类别

半导体晶圆图谱缺陷检测数据集VOC+YOLO格式11720张8类别 数据集格式Pascal VOC格式YOLO格式(不包含分割路径的txt文件仅仅包含jpg图片以及对应的VOC格式xml文件和yolo格式txt文件)图片数量(jpg文件个数)11720标注数量(xml文件个数)11720标注数量(txt文件个数)11720标注类别数8标注类别名称(注意yolo格式类别顺序不和这个对应而以labels文件夹classes.txt为准):[Center,Donut,Edge-Loc,Edge-Ring,Loc,Near-full,Random,Scratch]每个类别标注的框数Center 框数 2147Donut 框数 555Edge-Loc 框数 4050Edge-Ring 框数 2421Loc 框数 2400Near-full 框数 149Random 框数 866Scratch 框数 1673总框数14261使用标注工具labelImg标注规则对类别进行画矩形框重要说明暂无特别声明本数据集不对训练的模型或者权重文件精度作任何保证数据集只提供准确且合理标注图片预览标注例子数据集地址https://download.csdn.net/download/FL1623863129/88610659
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