中国关键数字技术专利及引用被引用数据系统整理了中国在关键数字技术领域的专利数据及其引用与被引用关系。数据覆盖发明公布专利、发明授权专利和实用新型专利三大类型并依据《关键数字技术专利分类体系2023》细分至一级技术分支层面包括技术分支编号与名称等核心字段。数据来源于公开渠道的系统整理每年定期更新确保用户能够获取最新、完整的专利动态信息为技术研究与市场分析提供坚实基础。数据特点全面覆盖多种专利类型与引用关系数据库不仅包含专利基本信息如专利名称、申请号、公布日期等还详细记录了引用与被引用关系覆盖发明公布、发明授权和实用新型专利的六大子表。例如字段包括“被引用专利ID”“引用专利ID”“被引用专利名称”等支持用户进行跨类型、多维度的专利网络分析。基于权威技术分类体系数据严格按照《关键数字技术专利分类体系2023》进行编码细分至一级技术分支编号与名称使用户能够精准定位特定技术领域避免分类混乱提升分析效率。高粒度字段支持深度分析除基础专利信息外数据库还提供IPC与CPC分类号、权利要求数、法律状态、是否Family to Family引用等高级字段如“被引用专利权利要求数”“被引用专利被引用次数”满足用户对专利质量、影响力及法律状态的精细化研究需求。引用网络数据完整详实数据库详细记录了引用与被引用专利的申请日期、授权日期、优先权日、发明人及专利权人等字段如“被引用专利申请日期”“引用专利专利权人(中文)”便于构建专利引用网络分析技术传播路径与创新关联。数据应用价值支持学术研究与技术创新分析学者可利用该数据进行专利计量学、技术演化趋势、创新扩散等研究。例如通过“被引用专利被引用次数”字段可识别高影响力专利结合技术分支分析某一领域的技术成熟度与突破点。助力企业竞争情报与战略布局企业用户可通过分析竞争对手的专利引用关系与技术分支分布如“一级技术分支名称”识别技术空白、评估自身专利地位并优化研发投入与知识产权策略。为政策制定与产业规划提供依据政府与行业协会可借助该数据宏观把握关键数字技术的发展态势例如通过技术分支的专利数量与引用网络评估区域或行业的技术优势与薄弱环节支撑产业政策与创新激励措施的制定。辅助投资决策与风险评估投资者可通过专利的引用次数、法律状态及Family to Family引用标识如“引用专利被引用次数”“被引用专利法律状态”评估技术公司的专利质量与潜在风险为投融资决策提供数据支撑。CnOpenData中国关键数字技术专利及引用被引用数据以公开来源整理为基础凭借其全面的专利类型覆盖、细致的技术分类体系以及丰富的引用关系数据成为学界与业界分析中国关键数字技术创新的重要工具。年度更新机制确保数据的时效性与连续性为用户的研究、决策与规划提供可靠支持。二、时间区间发明公布按照申请公布日统计1985-2024年发明授权/实用新型按照授权公布日统计1985-2024年三、数据说明关键数字技术专利分类体系表主分支一级技术分支编号一级技术分支名称人工智能1人工智能硬件平台人工智能2人工智能通用技术人工智能3人工智能关键技术高端芯片1半导体设备高端芯片2半导体材料高端芯片3芯片制造高端芯片4封装测试高端芯片5芯片设计量子信息1量子测量量子信息2量子计算量子信息3量子通信物联网1感知物联网2通信物联网3计算物联网4安全区块链1核心技术区块链2增强技术工业互联网1网络层工业互联网2平台层工业互联网3安全层元宇宙1沉浸式计算元宇宙2WEB 3.0元宇宙3新型基础设施三、字段展示中国关键数字技术发明公布专利引用表中国关键数字技术发明公布专利被引用表中国关键数字技术发明授权专利引用表中国关键数字技术发明授权专利被引用表中国关键数字技术实用新型专利引用表中国关键数字技术实用新型专利被引用表索引ID(申请公布号)索引ID(申请公布号)索引ID(授权公告号)索引ID(授权公告号)索引ID(授权公告号)索引ID(授权公告号)主分支主分支主分支主分支主分支主分支一级技术分支编号一级技术分支编号一级技术分支编号一级技术分支编号一级技术分支编号一级技术分支编号一级技术分支名称一级技术分支名称一级技术分支名称一级技术分支名称一级技术分支名称一级技术分支名称专利名称专利名称专利名称专利名称专利名称专利名称专利申请公布号专利申请公布号专利授权公告号专利授权公告号专利授权公告号专利授权公告号专利申请公布日专利申请公布日专利授权公告日专利授权公告日专利授权公告日专利授权公告日专利申请号专利申请号专利申请号专利申请号专利申请号专利申请号专利申请日专利申请日专利申请日专利申请日专利申请日专利申请日申请人申请人专利申请公布日专利申请公布日专利权人专利权人IPC分类号IPC分类号专利权人专利权人IPC分类号IPC分类号CPC分类号CPC分类号IPC分类号IPC分类号CPC分类号CPC分类号被引用专利ID引用专利IDCPC分类号CPC分类号被引用专利ID引用专利ID被引用专利名称引用专利名称被引用专利ID引用专利ID被引用专利名称引用专利名称被引用专利申请公布号引用专利申请公布号被引用专利名称引用专利名称被引用专利申请公布号引用专利申请公布号被引用专利申请公布日引用专利申请公布日被引用专利申请公布号引用专利申请公布号被引用专利申请公布日引用专利申请公布日被引用专利申请号引用专利申请号被引用专利申请公布日引用专利申请公布日被引用专利申请号引用专利申请号被引用专利申请日期引用专利申请日期被引用专利申请号引用专利申请号被引用专利申请日期引用专利申请日期被引用专利授权公告号引用专利授权公告号被引用专利申请日期引用专利申请日期被引用专利授权公告号引用专利授权公告号被引用专利授权日期引用专利授权日期被引用专利授权公告号引用专利授权公告号被引用专利授权日期引用专利授权日期被引用专利优先权日引用专利优先权日被引用专利授权日期引用专利授权日期被引用专利优先权日引用专利优先权日被引用专利发明人引用专利发明人被引用专利优先权日引用专利优先权日被引用专利发明人引用专利发明人被引用专利专利权人引用专利专利权人被引用专利发明人引用专利发明人被引用专利专利权人引用专利专利权人被引用专利专利权人(中文)引用专利专利权人(中文)被引用专利专利权人引用专利专利权人被引用专利专利权人(中文)引用专利专利权人(中文)被引用专利IPC分类号引用专利IPC分类号被引用专利专利权人(中文)引用专利专利权人(中文)被引用专利IPC分类号引用专利IPC分类号被引用专利CPC分类号引用专利CPC分类号被引用专利IPC分类号引用专利IPC分类号被引用专利CPC分类号引用专利CPC分类号被引用专利权利要求数引用专利权利要求数被引用专利CPC分类号引用专利CPC分类号被引用专利权利要求数引用专利权利要求数被引用专利引用其他专利次数引用专利引用其他专利次数被引用专利权利要求数引用专利权利要求数被引用专利引用其他专利次数引用专利引用其他专利次数被引用专利被引用次数引用专利被引用次数被引用专利引用其他专利次数引用专利引用其他专利次数被引用专利被引用次数引用专利被引用次数被引用专利法律状态引用专利法律状态被引用专利被引用次数引用专利被引用次数被引用专利法律状态引用专利法律状态被引用专利是否FamilytoFamily引用引用专利是否FamilytoFamily引用被引用专利法律状态引用专利法律状态被引用专利是否FamilytoFamily引用引用专利是否FamilytoFamily引用添加该被引用信息的主体添加该引用信息的主体被引用专利是否FamilytoFamily引用引用专利是否FamilytoFamily引用添加该被引用信息的主体添加该引用信息的主体添加该被引用信息的主体添加该引用信息的主体四、样本数据因本数据表格较多本页仅作关键数字技术发明授权专利相关表格展示更多表格内容请咨询。中国关键数字技术发明授权专利引用表索引ID(授权公告号)主分支一级技术分支编号一级技术分支名称专利名称专利授权公告号专利授权公告日专利申请号专利申请日专利申请公布日专利权人IPC分类号CPC分类号被引用专利ID被引用专利名称被引用专利申请公布号被引用专利申请公布日被引用专利申请号被引用专利申请日期被引用专利授权公告号被引用专利授权日期被引用专利优先权日被引用专利发明人被引用专利专利权人被引用专利专利权人(中文)被引用专利IPC分类号被引用专利CPC分类号被引用专利权利要求数被引用专利引用其他专利次数被引用专利被引用次数被引用专利法律状态被引用专利是否FamilytoFamily引用添加该被引用信息的主体CN1011919高端芯片1半导体设备[发明授权] 测定分析物的最少的操作步骤系统CN10119191991-03-06 00:00:008710625691987-08-13 00:00:00生命扫描有限公司G01N33/66; G01N33/52G01N2~44444ES310641A1Diagnostic agents for the detection of components contained in full bloodES310641A11965-07-01ES0310641A1965-03-161964-03-20Roche Diagnostics GmbH;CF Boehringer und Soehne GmbHG01N33/5002;C12Q1/26;C12Q1/46;G01N33/5210011ExpiredTRUEFALSECN1011919高端芯片1半导体设备[发明授权] 测定分析物的最少的操作步骤系统CN10119191991-03-06 00:00:008710625691987-08-13 00:00:00生命扫描有限公司G01N33/66; G01N33/52G01N2~44444US3298769AMethod and apparatus for making electron discharge devicesUS3298769A1967-01-17US422753A1964-12-311964-12-31Charles L ToomeyGTE Sylvania IncH01J9/04;H01J9/042101Expired - LifetimeTRUETRUECN1011919高端芯片1半导体设备[发明授权] 测定分析物的最少的操作步骤系统CN10119191991-03-06 00:00:008710625691987-08-13 00:00:00生命扫描有限公司G01N33/66; G01N33/52G01N2~44444US3511608AMultiple layer paper test stripUS3511608A1970-05-12US690504A1967-12-141967-12-14Harold P AndersonHAROLD P ANDERSONG01N31/220538Expired - LifetimeTRUETRUECN1011919高端芯片1半导体设备[发明授权] 测定分析物的最少的操作步骤系统CN10119191991-03-06 00:00:008710625691987-08-13 00:00:00生命扫描有限公司G01N33/66; G01N33/52G01N2~44444US3607093ADevices for testing biological liquidsUS3607093A1971-09-21US705603A1968-02-151968-02-15Ellery W StoneMerck Sharp and Dohme CorpG01N33/523;B01D61/38;C12Q1/54;Y10T436/144444;Y10T436/146666;Y10T436/2556455Expired - LifetimeTRUETRUECN1011919高端芯片1半导体设备[发明授权] 测定分析物的最少的操作步骤系统CN10119191991-03-06 00:00:008710625691987-08-13 00:00:00生命扫描有限公司G01N33/66; G01N33/52G01N2~44444CH482249ATeilchenzähleinrichtungCH482249A1969-11-30CH586968A1968-04-191968-04-19Schoen Kurt;Gaehwiler HermannContraves AgG01N15/120411TRUEFALSECN1011919高端芯片1半导体设备[发明授权] 测定分析物的最少的操作步骤系统CN10119191991-03-06 00:00:008710625691987-08-13 00:00:00生命扫描有限公司G01N33/66; G01N33/52G01N2~44444US3811840ATest device for detecting low concentrations of substances in fluidsUS3811840A1974-05-21US00811935A1969-04-011969-04-01R Bauer;R Rosenfield;C RupeBayer CorpC12Q1/54;G01N31/22;G01N33/521;G01N33/525;Y10T436/173845;Y10T436/193333;Y10T436/2016667386Expired - LifetimeTRUETRUECN1011919高端芯片1半导体设备[发明授权] 测定分析物的最少的操作步骤系统CN10119191991-03-06 00:00:008710625691987-08-13 00:00:00生命扫描有限公司G01N33/66; G01N33/52G01N2~44444US3593568AProthrombin time measuring apparatus with means to start the timer in response to the initial decrement of optical transmissivityUS3593568A1971-07-20US812056A1969-04-011969-04-01Lewis E BovardRoche Diagnostics CorpG04F10/04;G01N33/49058627Expired - LifetimeTRUETRUECN1011919高端芯片1半导体设备[发明授权] 测定分析物的最少的操作步骤系统CN10119191991-03-06 00:00:008710625691987-08-13 00:00:00生命扫描有限公司G01N33/66; G01N33/52G01N2~44444BE754658AINDICATOR SHEET, CONSISTING OF AN IMPREGNATED, ABSORBENT, SHEATHED HAIR MATERIALBE754658A1971-02-101969-08-12Merck Patent GmbhG01N33/525;C12Q1/460389TRUETRUE中国关键数字技术发明授权专利被引用表索引ID(授权公告号)主分支一级技术分支编号一级技术分支名称专利名称专利授权公告号专利授权公告日专利申请号专利申请日专利申请公布日专利权人IPC分类号CPC分类号引用专利ID引用专利名称引用专利申请公布号引用专利申请公布日引用专利申请号引用专利申请日期引用专利授权公告号引用专利授权日期引用专利优先权日引用专利发明人引用专利专利权人引用专利专利权人(中文)引用专利IPC分类号引用专利CPC分类号引用专利权利要求数引用专利引用其他专利次数引用专利被引用次数引用专利法律状态引用专利是否FamilytoFamily引用添加该引用信息的主体CN1006048高端芯片1半导体设备[发明授权] 控制可动部件的精密定位方法和装置CN10060481989-12-13 00:00:008510955851985-12-10 00:00:00查尔斯·亚当斯B23Q3~47/20B23Q1~/2541EP1005955B1Grinding machine spindle flexibly attached to platformEP1005955A22000-06-07EP00102819A1997-06-11EP1005955A32001-12-121996-06-15Mark ~ierseIntermec Europe LtdB24B5~/0002242102Expired - LifetimeTRUETRUECN1006048高端芯片1半导体设备[发明授权] 控制可动部件的精密定位方法和装置CN10060481989-12-13 00:00:008510955851985-12-10 00:00:00查尔斯·亚当斯B23Q3~47/20B23Q1~/2541WO2020224893A1Guiding deviceWO2020224893A12020-11-12PCT/EP2020/0596952020-04-032019-05-09Patri~LTERSAsml Netherlands B.V.G03F7~2/0080121TRUETRUECN1006095高端芯片1半导体设备[发明授权] 随机存取存贮器的快速功能测试法及其系统CN10060951989-12-13 00:00:008610226531986-03-04 00:00:00约翰·弗兰克制造公司G06F1~29/00G11C2~29/36GB2222461BOn chip testing of semiconductor memory devicesGB2222461A1990-03-07GB8918830A1989-08-17GB2222461B1993-05-191988-08-30Kazut~ukudeMitsubishi Electric CorpG11C2~1/26701335Expired - LifetimeTRUETRUECN1006095高端芯片1半导体设备[发明授权] 随机存取存贮器的快速功能测试法及其系统CN10060951989-12-13 00:00:008610226531986-03-04 00:00:00约翰·弗兰克制造公司G06F1~29/00G11C2~29/36US5471482AVLSI embedded RAM testUS5471482A1995-11-28US08/223,4351994-04-051994-04-05Larry~SeppaUnisys CorpG11C2~29/102946Expired - LifetimeTRUETRUECN1006095高端芯片1半导体设备[发明授权] 随机存取存贮器的快速功能测试法及其系统CN10060951989-12-13 00:00:008610226531986-03-04 00:00:00约翰·弗兰克制造公司G06F1~29/00G11C2~29/36CN105702299B[发明授权] 存储器单元失效检测方法与系统CN105702299A2016-06-22CN201511030997.6A2015-12-30CN105702299B2018-09-282015-12-30刘奕宏;杨~亮;陈立明China South Power Grid International Co ltd;China Electronic Product Reliability and Environmental Testing Research Institute工业和信息化部电子第五研究所;南方电网科学研究院有限责任公司G11C29/44(2006.01)I; G11C29/38(2006.01)I; G11C29/00(2006.01)IG11C2~9/8041030ActiveTRUETRUECN1006261高端芯片1半导体设备[发明授权] 在硅衬底上形成隔离硅区和场效应器件的工艺过程CN10062611989-12-27 00:00:008510455101985-06-14 00:00:00英特尔公司H01L2~27/04H01L2~84/00EP0849804A3Improvements in or relating to field effect transistorsEP0849804A21998-06-24EP97310335A1997-12-19EP0849804A31999-08-251996-12-19Ih-Ch~ ChenTexas Instruments IncH01L2~/06530910WithdrawnTRUETRUECN1006262高端芯片1半导体设备[发明授权] 程序可控半导体结构及其编制程序法CN10062621989-12-27 00:00:008510822111985-11-12 00:00:00能源转换装置公司H01L2~13/00~CN105529344A[发明公布] 交叉矩阵列式磁性随机存储器制造工艺CN105529344A2016-04-27CN201510726561.4A2015-10-302015-10-30肖荣福;郭~一民;陈峻Shanghai Ciyu Information Technologies Co Ltd上海磁宇信息科技有限公司H01L27/22(2006.01)I; H01L43/08(2006.01)IH10B6~50/101042PendingTRUETRUECN1006247高端芯片1半导体设备[发明授权] 取血样及测量血沉装置CN10062471989-12-27 00:00:008610507621986-08-18 00:00:00株式会社尼肖G01N1~L3/14G01N1~06664US5594164AMethod and apparatus for rapid determination of blood sedimentation rateUS5594164A1997-01-14US08/270,6811994-07-121994-07-12Brian~ BullIndividualG01N1~/5006194234Expired - Fee RelatedTRUETRUE五、数据更新频率年度更新